xrd是X射线衍射，可以分析相，SEM是扫描电镜，主要观察微观结构，TEM是透射电镜，主要观察超限微观结构,XRD是X射线衍射仪，其原理是在高压下，阴极发射的电子形成高能电子束，轰击阳极靶(一般为Cu)，靶内部电子能量增大，被激发,AFM是一种原子力显微镜，主要用于观察表面形貌。
xrd是X射线衍射，可以分析相，SEM是扫描电镜，主要观察微观结构，TEM是透射电镜，主要观察超限微观结构。AES指的是能谱，主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜也用于观察超微结构。AFM是一种原子力显微镜，主要用于观察表面形貌。答案并不完整。
SEM是扫描电子显微镜，最高可以放大到20万倍左右。用二次电子成像观察物质的微观形态。EDS是一种能谱仪，根据各元素的电子能量不同来鉴别元素。通常与SEM结合使用，也就是说在SEM上安装EDS附件，在观察形貌时，选取某个区域进行能谱，已知该区域的元素组成。XRD是X射线衍射仪，其原理是在高压下，阴极发射的电子形成高能电子束，轰击阳极靶(一般为Cu)，靶内部电子能量增大，被激发。当它回到基态时，多余的能量以X射线和俄歇电子的形式释放出来。XRD收集X射线，当X射线在样品上扫描时，根据布拉格方程会产生衍射角和衍射峰。每种物质的衍射峰不一样，所以通常用来鉴定相，也是根据峰面积半定量。
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